，晶粒比擬大，組織不夠嚴(yán)密，再加上往往處于毛面形態(tài)就停止測量，因而使測量遇到較大的困難。 首先是晶粒的細(xì)小和組織不嚴(yán)密性形成聲能的極大衰減，衰減是由資料對聲能的散射和排匯形成的。衰減的水平與晶粒尺寸和超聲頻率是有親密關(guān)系的，雷同頻率下衰減隨晶粒直徑的增大而增大，但有一較高點，超越這一點，晶粒直徑再增大，衰減根本趨于一固定值。關(guān)于不同頻率的衰減隨頻率的增大而增大。

1.其次，因為晶粒細(xì)小和鑄造中存在細(xì)小異相組織時

，將發(fā)生異常反射，即草狀回波或樹狀回波，使測厚呈現(xiàn)錯誤讀數(shù)，形成誤判。

2.另外，隨著晶粒的細(xì)小