正式透露涂層測(cè)厚儀與膜厚儀之間有什么區(qū)別
更新時(shí)間:2021-01-29 點(diǎn)擊次數(shù):1751
涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別
涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別?膜厚儀和涂層測(cè)厚儀是同一種產(chǎn)品,叫法不一樣
,就好像光澤儀大家會(huì)叫光澤度儀,光澤度計(jì)
,光澤測(cè)試儀。
膜厚儀一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品
。
膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度,常見(jiàn)的鋁基
,銅基氧化
,測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N(非磁性)探頭,這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀
。
涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理
,配F合N探頭,或者FN一體探頭
。氧化層一般是幾微米到十幾微米
,但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大,需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層
,蘭泰儀器涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層
。
兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別,不過(guò)現(xiàn)在使用者很多不了解