，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些辦法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量方式繁瑣，速度慢，多實(shí)用于抽樣測(cè)驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量

，但裝配復(fù)雜高?，測(cè)量領(lǐng)域較小。因有放射源，運(yùn)用者必需按照射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法合適鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益提高，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后

，涂鍍測(cè)厚儀采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型

、智能、多性能

、高精度

、適用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米

，精度可到達(dá)1%

，有了大幅度的進(jìn)步。它實(shí)用范疇廣

，量程寬

、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研運(yùn)用較多的測(cè)厚儀器

。

涂鍍測(cè)厚儀采用無(wú)損辦法測(cè)量既不損壞覆層也不損壞基材

，檢測(cè)速度快，能使大多的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地實(shí)行。