了解一下關(guān)于涂鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理及分類吧
更新時(shí)間：2022-11-22 點(diǎn)擊次數(shù)：1391
涂鍍層測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器，用于測(cè)量有色金屬基體上的非導(dǎo)電涂層的厚度，如銅
、鋁、鋅等基體上的油漆
、塑料
、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽(yáng)極氧化膜厚度等
。
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:
1.測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量
，導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳，此種方法測(cè)量精度高
。
2.測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低
。
3.超聲波測(cè)厚法目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的
。國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層途鍍層厚度的測(cè)量或則是以上要種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)貪
，但一般價(jià)格員貴測(cè)量精度也不高
。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)
，需要破壞涂鍍層.一般精度也不高
，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴適用于一些特殊場(chǎng)合
，國(guó)內(nèi)目前使用最為普遍的是第1\2兩種方法
。
常規(guī)涂鍍層測(cè)厚儀的原理:
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層
，如涂層
、鍍層、敷層
、貼層
、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層
。
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)
、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段
，為使產(chǎn)品國(guó)際化
，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中
，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法
，光截法
，電解法，厚度差測(cè)量法
，稱重法
，X射線熒光法，β射線反向散射法
，電容法
、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)
，測(cè)量手段繁瑣
，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)
。
x射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量
，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小
。因有放射源
，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層
、雙鍍層
、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量
。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用
。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后
，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型
、智能、多功能
、高精度
、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米
，精度可達(dá)到1%
，有了大幅度的提高。它適用范圍廣
，量程寬
、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器
。
采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材
，檢測(cè)速度快
，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
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