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膜厚儀電渦流測量原理

更新時間:2013-01-31      點擊次數(shù):2283
膜厚儀電渦流測量原理:
    高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場
,測頭靠近導(dǎo)體時
,就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近
,則渦流愈大
,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小
,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小
。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭
。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯
,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較
,主要區(qū)別是測頭不同
,信號的頻率不同,信號的大小
、標(biāo)度關(guān)系不同
。與磁感應(yīng)測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um
,允許誤差1%
,量程10mm的高水平。   
    采用電渦流原理的測厚儀
,原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量
,如航天航空器表面、車輛
、家電
、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜
。覆層材料有一定的導(dǎo)電性
,通過校準(zhǔn)同樣也可測量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)
。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體
,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適。
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