涂層測厚儀的原理
更新時間:2013-06-05 點擊次數(shù):2735
涂層測厚儀的原理:
涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼
、鐵
、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻
、銅
、琺瑯
、橡膠
、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅
、鋁、鋅
、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯
、橡膠、油漆
、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小
、可靠性高
、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點
,是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)
、金屬加工業(yè)
、化工業(yè)
、商檢等檢測領(lǐng)域
。
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層
,如涂層
、鍍層、敷層
、貼層
、化學生成膜等,在有關(guān)國家和標準中稱為覆層(coating)
。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)
,是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段
。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中
,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法
,光截法,電解法
,厚度差測量法
,稱重法
,X射線熒光法
,β射線反向散射法
,電容法、磁性測量法及渦流測量法等
。這些方法中前五種是有損檢測
,測量手段繁瑣
,速度慢
,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量
,但裝置復雜昂貴
,測量范圍較小
。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規(guī)范
。X射線法可測極薄鍍層
、雙鍍層、合金鍍層
。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用
。
隨著技術(shù)的日益進步
,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型
、智能、多功能
、高精度
、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米
,精度可達到1%,有了大幅度的提高
。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉
,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器
。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材
,檢測速度快,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行
。