，還應(yīng)有相同的被測面積。如覆層含有導(dǎo)電成份
，校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測物的覆層有相同的導(dǎo)電性能
。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過其它（包括有損測試方法）測試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準(zhǔn)測厚儀
。校準(zhǔn)后就可以在被測產(chǎn)品上進(jìn)行快速無損檢測
。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過的硬紙。
微電腦測厚一般有多個校準(zhǔn)值存貯
。隨著被測產(chǎn)品的不同位置
、材料變化、更換測頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯
。實際使用時直接調(diào)用各校準(zhǔn)值
，就無須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”
。大大提高了檢測效率
。
測試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印
、計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)供分析
，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確
，測量時所有超限的點都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計計算用
。
影響測量值的因素與解決方法
使用測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能
，也需了解測試條件
。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基于被測基體的電
、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以
，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小
。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹
。
1. 邊界間距
如果探頭與被測體邊界、孔眼
、空腔
、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差
。如必須測量該點的覆層厚度
，只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測量
。（注：的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的*功能可達(dá)3～10%的精度）
2. 基體表面曲率
在一個平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個初始值
，然后在測量覆層厚度后減去這個初始值?div id="d48novz" class="flower left">
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。
3. 基體金屬zui小厚度
基體金屬必須有一個給定的zui小厚度，使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中
，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)
，在這個厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響
，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除
。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值
。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正
。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值
。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀
，如前所述。
4. 表面粗糙度和表面清潔度
在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行
。顯而易見
，不論是基體或是覆層，越粗糙
，測量值越不可靠
。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%
。而對于表面雜質(zhì)
，則應(yīng)予去除
。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”
。
5. 探頭測量板的作用力
探頭測量時的作用力應(yīng)是恒定的
。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變
，以致測量值下降
。活產(chǎn)生大的波動
，必要時
，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的
，具有一定厚度的硬性薄膜
。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?
6. 外界恒磁場、電磁場和基體剩磁
應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進(jìn)行測量
。殘存的剩磁
，根據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼
，深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象
。
7. 覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份
覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時
，會對測量值產(chǎn)生影響
，在這種情況下，對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性
，經(jīng)校準(zhǔn)后使用
。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)試樣
。也可向有關(guān)計量測試部門購得
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