影響涂層測(cè)厚儀精度因素的有關(guān)說明
更新時(shí)間：2013-10-26 點(diǎn)擊次數(shù)：4341
影響涂層測(cè)厚儀精度因素的有關(guān)說明
a） 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中
，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）
，為
了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)
；亦
可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b） 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)
。使用與試件
基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)
。
c） 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度
，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響
。本儀器
的臨界厚度值見附表1。
d） 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感
。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的
。
e） 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大
。因此
，在彎曲試件的表面
上測(cè)量是不可靠的。
f） 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形
，因此在這些試件上不能測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)
。
g） 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大
，影響增大
。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤
差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)
，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)
，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗
糙
，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)
；或用對(duì)基體金屬?zèng)]
有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)
。
g） 磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)
，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h） 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感
，因此
，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀
器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸
。
i） 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)
，因此，要保持壓力恒定
。
j） 測(cè)頭的取向
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測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響
。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直
。
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、蘭泰儀器的涂層測(cè)厚儀品種多樣，功能齊全
，有單次連續(xù)兩種測(cè)量模式
，方便對(duì)曲面及較薄的試件進(jìn)行測(cè)量
，并且是在儀表量程內(nèi)校準(zhǔn)一點(diǎn)就可以了。zui大量程可達(dá)15㎜
，有CM-8825
、CM-8826、CM-8828
、CM-8829
、CM-8855、
CM-8856等選擇
。
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