涂層測厚儀的測量的類型
更新時(shí)間:2010-04-29 點(diǎn)擊次數(shù):3327
涂層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量精度高
2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低
3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價(jià)格昂貴\測量精度也不高.
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩
5.放射測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.
常規(guī)涂層測厚儀的原理
對材料表面保護(hù)
、裝飾形成的覆蓋層
,如涂層、鍍層
、敷層
、貼層、化學(xué)生成膜等
,在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)
。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)
,是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段
。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中
,對覆層厚度有了明確的要求
。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法
,電解法
,厚度差測量法,稱重法
,X射線熒光法
,β射線反向散射法,電容法
、磁性測量法及渦流測量法等
。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣
,速度慢
,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測量
,但裝置復(fù)雜昂貴
,測量范圍較小。因有放射源
,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范
。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層
、合金鍍層
。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用
。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步
,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型
、智能
、多功能、高精度
、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步
。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%
,有了大幅度的提高
。它適用范圍廣,量程寬
、操作簡便且價(jià)廉
,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材
,檢測速度快
,能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。